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製品紹介に光切断による三次元計測を追加しました。

製品紹介に、光切断による三次元計測を追加しました。

ライン状のレーザ光源を検査ワークに照射し、その反射光を高さデータ(プロファイル)として取得する「光切断法」を用いた三次元計測システムです。

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