製品紹介

HOME » 製品紹介 » 1.デバイステスター関連

1.デバイステスター関連

耐圧絶縁抵抗試験装置

型式: MAC-732

リレーデバイスを対象とした、最大4端子による耐電圧・絶縁抵抗計測を行うテスト装置です。

特徴

  • 耐電圧試験、絶縁抵抗試験が任意の組み合わせで実施できます。
  • 最大4端子による複数条件の試験が一括で実施できます。
  • 端子の切替や様々な計測条件の変更などを自動で行うため、試験時間を大幅に短縮できます。

主要諸元

品名 耐圧絶縁抵抗試験装置
型式 MAC-732
測定端子数 同時計測端子4(Hi/Low/Close選択可)
試験内容 耐電圧計測・絶縁抵抗計測
耐震圧計測緒元 印加電圧DC10~5kV 漏れ電流計測範囲10μ~10mA
絶縁抵抗計測緒元 印加電圧DC10~5kV 抵抗計測範囲10k~9.9GΩ
システム外観

システム外観

計測画面

計測画面

↑ ページの先頭にもどる