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1.デバイステスター関連

MEMSスイッチ デバイステスター

型式: MAC-429

FPGAモジュールとリアルタイムOSCPUユニットで構成される高速・高精度のリレーテスターです。

特徴

  • 多数回(10億回以上)の連続テストと精緻な特性テストが本機1台で行えます。
  • 接触抵抗と接点状態(開離,溶着)が同時に計測できます。
  • 定電流4端子方法で接触抵抗を計測できます。
  • 外部電源、外部負荷抵抗を用いた自由度の高い計測が可能です。

主要諸元

品名 リレーテスター
型式 MAC-429
【連続テスト】 同時計測試料数48
コイル駆動周期 0.1~500Hz
接触抵抗計測 10mV~35V,10μA~100mA(無段階)
200ks/s,16bit,抵抗レンジ8段階
溶着開離計測 10mV~35V,10μA~100mA(無段階)
20Ms/s,8bit,レンジ無段階
【特性テスト】
動作復帰電圧計測 コイル電圧0~60V,接点電圧10mV~10V
接触抵抗計測 定電流0.1,1,10,100mA
動作復帰時間計測 接点電圧10mV~10V,20Ms/s,8bit
計測ユニット

計測ユニット

装置全景

装置全景

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